高溫氧化鋁的原晶粒度測定方法
氧化鋁粉經(jīng)過高溫煅燒相變制得高溫氧化鋁，而通常說的粒度值是指氧化鋁粉體的顆粒大小，測定這種顆粒的方法有很多，下面為大家介紹高溫氧化鋁的原晶粒度測定方法：
1、研磨法
早年美國鋁業(yè)公司的同行來中國時增提到過這種方法，在特定的容積內(nèi)，以一定的料球比、固定研磨時間（大約為8小時左右），再用粒度分析儀測定粉碎物料的晶粒分布及中位徑D50，并用這種方法來實現(xiàn)宏觀控制。
2、X射線衍射法
主要是譜線寬化法，該法可測定擬薄水鋁石的晶粒度，但a氧化鋁粉系列產(chǎn)品的衍射譜線是窄而銳利的，實驗表明并不存在“款化效應(yīng)”，甚至由于礦化劑的影響，造成衍射峰的強度與JCPDS卡片不一致，進而影響到α氧化鋁定量分析的準(zhǔn)確性。
3、氮吸附小比表面法
對于多孔活性物質(zhì)較合適，但由于從高溫下獲得的a氧化鋁粉燒結(jié)體是致密的，開氣孔和閉氣孔均很少，液氮分子難以進入晶粒的間隙，因此測定的范圍是有限的，其測定晶粒度的誤差也較大，該法的原理限制了其工業(yè)應(yīng)用價值。
4、電子顯微鏡法
以化學(xué)腐蝕與掃描電鏡（SEM）相結(jié)合測定晶粒度的方法，該法既直觀又可靠，是能反映晶粒形貌、尺寸的有效方法，但設(shè)備投資大，分析費用高。
5、紅外光譜結(jié)構(gòu)分析法
由于譜線吸收帶的大小與晶粒度的大小有關(guān)，可在紅外光譜儀的結(jié)構(gòu)中，引入一種吸附帶面積積分儀，來算出平均晶粒度，該法分析的用品用量很少，對于晶粒度分布范圍寬的樣品，如何取得有代表性的樣品，仍是客觀存在困難。
這幾種方法都是比較常用的方法，當(dāng)然每一種方法都有它的優(yōu)缺點，這就需要根據(jù)您的需要，來選擇一種方法，相信這些方法會為您帶來更大的便利的。
1、研磨法
早年美國鋁業(yè)公司的同行來中國時增提到過這種方法，在特定的容積內(nèi)，以一定的料球比、固定研磨時間（大約為8小時左右），再用粒度分析儀測定粉碎物料的晶粒分布及中位徑D50，并用這種方法來實現(xiàn)宏觀控制。
2、X射線衍射法
主要是譜線寬化法，該法可測定擬薄水鋁石的晶粒度，但a氧化鋁粉系列產(chǎn)品的衍射譜線是窄而銳利的，實驗表明并不存在“款化效應(yīng)”，甚至由于礦化劑的影響，造成衍射峰的強度與JCPDS卡片不一致，進而影響到α氧化鋁定量分析的準(zhǔn)確性。
3、氮吸附小比表面法
對于多孔活性物質(zhì)較合適，但由于從高溫下獲得的a氧化鋁粉燒結(jié)體是致密的，開氣孔和閉氣孔均很少，液氮分子難以進入晶粒的間隙，因此測定的范圍是有限的，其測定晶粒度的誤差也較大，該法的原理限制了其工業(yè)應(yīng)用價值。
4、電子顯微鏡法
以化學(xué)腐蝕與掃描電鏡（SEM）相結(jié)合測定晶粒度的方法，該法既直觀又可靠，是能反映晶粒形貌、尺寸的有效方法，但設(shè)備投資大，分析費用高。
5、紅外光譜結(jié)構(gòu)分析法
由于譜線吸收帶的大小與晶粒度的大小有關(guān)，可在紅外光譜儀的結(jié)構(gòu)中，引入一種吸附帶面積積分儀，來算出平均晶粒度，該法分析的用品用量很少，對于晶粒度分布范圍寬的樣品，如何取得有代表性的樣品，仍是客觀存在困難。
這幾種方法都是比較常用的方法，當(dāng)然每一種方法都有它的優(yōu)缺點，這就需要根據(jù)您的需要，來選擇一種方法，相信這些方法會為您帶來更大的便利的。
高溫氧化鋁相關(guān)資料
高溫氧化鋁相關(guān)產(chǎn)品
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